Beni Culturali

Il laboratorio è dedicato principalmente allo studio e alla caratterizzazione di materiali inorganici di interesse dei beni culturali mediante analisi chimico-fisiche, prevalentemente non invasive (diffrazione X da poveri: XRPD, fluorescenza dei raggi X: XRF) e di imaging (radiografia X, riflettografia IR, imaging di fluorescenza UV e indotta: VIL imaging) e microscopia ottica con focus stacking. Le analisi vengono effettuate sia in laboratorio che in situ.

Nel laboratorio è presente:
– Diffrattometro a quattro cerchi a geometria euleriana modello XCS-Huber¹ con generatore RX Spellmann XLG50P100 (HVmax = 50 kV e Pmax = 100 W) e rivelatore puntuale.
– Generatore RX Spellmann XRM65P50 (HVmax = 65 kV e Pmax = 50 W)
Inoltre è disponibile la seguente strumentazione (Prof. Marcello Colapietro):
– Strumentazione per XRF: Generatore RX della EISS.r.l., con anodo in tungsteno (W) HVmax = 38 kV e Pmax = 13 W Rivelatore SSD (Silicon Drift Detector) raffreddato con celle Peltier e analizzatore MCA (Multi Channel Analizer) dell’Amptek. Risoluzione 145 eV a 5.9 keV (Mn Kα) con Sistema ottico di puntamento basato su laser e microscopio digitale.
– Strumentazione per imaging: Camera CCD Starlight (mod. Trius Sx694) (2750 X 2200 pixel) con ottica professionale.
– Imaging IR: Filtri specifici (OD > 4). Illuminatori IR policromatici e monocromatici da 850 nm e 1100 nm
– Imaging UV e VIL: Filtri specifici (OD > 4). Illuminatori UV monocromatici 385 nm
– Imaging X: Rivelatore di tipo Imaging Plate (IP) che permette di raccogliere immagini digitali di dimensioni 27.7 cm X 14.40 cm, con scala di grigi di 16 bit e risoluzione 600 dpi e relativo lettore (mod. Carestream Kodak CR7400). Camera CCD intensificata della Photonic Science (mod. XRI) con FOS Hamamatsu per microradiografie
– Microscopia ottica: Microscopio ottico Bresser (50X) con fotocamera professionale Nikon D3000.
– Totem multifunzione costituito da un sistema di slitte XYZ motorizzate. Le slitte X e Y hanno un’escursione di ±20 cm, la slitta Z può arrivare fino a 2 m dalla superficie di base. I movimenti sono controllati con precisione <1 mm. Il Totem può essere utilizzato con la strumentazione per XRF, Imaging X, UV e IR precedentemente descritta.
– Spettrofotometria: Spettrofotometro della Mightex UV/VIS/NIR (20 0 – 1050 nm). Sorgente Ocean Optics HL-2000 (lampada tungsteno-alogena)

1. Colapietro, M., Cappuccio, G., Marciante, C., Pifferi, A., Spagna, R. & Helliwell, J. R. (1992). J. Appl. Cryst.25, 192–194.