Caratterizzazione di materiali tramite diffrazione di raggi X duri da sorgente di luce di sincrotrone
Caratterizzare materiali (superfici, soft matter, polveri) tramite diffrazione di raggi X duri da sorgente di luce di sincrotrone:
• riconoscimento delle fasi
• indicizzazione e individuazione delle orientazioni rispetto alle superfici
• analisi del profilo, valutazione della cristallinità
• caratterizzazione delle transizioni di fase
Assistenza nella presentazione di proposte di esperimenti in luce di sincrotrone:
Caratterizzare materiali (superfici, soft matter, polveri) tramite diffrazione di raggi X duri da sorgente di luce di sincrotrone:
• riconoscimento delle fasi
• indicizzazione e individuazione delle orientazioni rispetto alle superfici
• analisi del profilo, valutazione della cristallinità
• caratterizzazione delle transizioni di fase
Assistenza utenti, collaborazione nella riduzione, rappresentazione e interpretazione del dato sperimentale.
– Bhattarai, M.; Penttilä, P.; Barba, L.; Macias-Rodriguez, B.; Hietala, S.; Mikkonen, K. S.; Valoppi, F. Size-Dependent Filling Effect of Crystalline Celluloses in Structural Engineering of Composite Oleogels. LWT 2022, 160, 113331. https://doi.org/10.1016/j.lwt.2022.113331.
– Vohra, V.; Matsunaga, Y.; Takada, T.; Kiyokawa, A.; Barba, L.; Porzio, W. Impact of the Electron Acceptor Nature on the Durability and Nanomorphological Stability of Bulk Heterojunction Active Layers for Organic Solar Cells. Small 2021, 17 (2), 2004168. https://doi.org/10.1002/smll.202004168.
– Calabrese, G.; Pipitone, C.; Marini, D.; Giannici, F.; Martorana, A.; Barba, L.; Summonte, C.; Masciocchi, N.; Milita, S. Highly Stable Thin Films Based on Novel Hybrid 1D (PRSH)PbX3 Pseudo-Perovskites. Nanomaterials 2021, 11 (10), 2765. https://doi.org/10.3390/nano11102765.
– Boota, M.; Hussain, T.; Yang, L.; Bécuwe, M.; Porzio, W.; Barba, L.; Ahuja, R. Mechanistic Understanding of the Interactions and Pseudocapacitance of Multi-Electron Redox Organic Molecules Sandwiched between MXene Layers. Advanced Electronic Materials 2021, 7 (4), 2001202. https://doi.org/10.1002/aelm.202001202.
