Diffrazione & Riflettività di raggi X

Film sottili e/o policristallini sono studiati mediante Diffrazione e/o Riflettività di raggi X, utilizzando il diffrattometro Bruker D8 Discover, in configurazione a fascio parallelo. La geometria di riflessione o quella di trasmissione possono essere usate alternativamente per studiare la struttura cristallina di campioni planari o di polveri inserite in opportuni capillari, rispettivamente. In questo ultimo caso, il capillare viene montato su uno stadio di rotazione per assicurare la media statistica sulle orientazioni dei domini cristallini.

Strumentazione in Laboratorio 

Bruker D8 Discover, in configurazione a fascio parallelo, equipaggiato con tubo a raggi X (Cu target), culla di Eulero, specchio di Goebel, e detector scintillatore.